薄膜的厚度是否均勻是檢驗薄膜性能的依據。顯然，如果一批單層薄膜的厚度不均勻，不僅會(huì )影響薄膜的抗拉強度和阻隔性能，還會(huì )影響薄膜的后續加工。此外，合理控制產(chǎn)品厚度，不僅可以提高產(chǎn)品質(zhì)量，還可以降低材料消耗，提高生產(chǎn)效率。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預設值一致，厚度偏差是否在范圍內，都是薄膜能否具備一些特性指標的重要前提。薄膜厚度測量是薄膜制造行業(yè)的基本檢測項目之一。

　　

　　薄膜測厚儀采用機械接觸測量原理，截取一定尺寸的圖案；通過(guò)控制面板上的按鈕調整測頭落在圖案上；材料的厚度是通過(guò)兩個(gè)接觸面產(chǎn)生的壓力和傳感器測量的兩個(gè)接觸面積來(lái)測量的。

　　

　　1、接觸面積和測量壓力嚴格按照標準設計，同時(shí)支持各種非標定制。

　　

　　2、薄膜測厚儀測試時(shí)測頭自動(dòng)升降，有效避免人為因素造成的系統誤差。

　　

　　3、支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測量模式，方便用戶(hù)自由選擇。

　　

　　4、系統可自動(dòng)進(jìn)樣，進(jìn)樣步驟、測點(diǎn)、進(jìn)樣速度等相關(guān)參數可由用戶(hù)自行設置。

　　

　　5、測量結果的平均值、標準偏差等分析數據實(shí)時(shí)顯示，方便用戶(hù)判斷。

　　

　　6、配置標準量塊進(jìn)行系統校準，確保測試的準確性和數據一致性。

　　

　　7、系統支持實(shí)時(shí)數據顯示、自動(dòng)統計、打印等多項實(shí)用功能。

　　

　　8、5寸觸摸屏控制，方便用戶(hù)進(jìn)行測試操作和數據查看。

　　

　　9、薄膜測厚儀標準USB接口，方便系統與電腦的外部連接和數據交換。