薄膜的厚度是否均勻是檢驗薄膜性能的依據。顯然,如果一批單層薄膜的厚度不均勻,不僅會(huì )影響薄膜的抗拉強度和阻隔性能,還會(huì )影響薄膜的后續加工。此外,合理控制產(chǎn)品厚度,不僅可以提高產(chǎn)品質(zhì)量,還可以降低材料消耗,提高生產(chǎn)效率。因此,薄膜厚度是否均勻,是否與預設值一致,厚度偏差是否在范圍內,都是薄膜能否具備一些特性指標的重要前提。薄膜厚度測量是薄膜制造行業(yè)的基本檢測項目之一。
薄膜測厚儀采用機械接觸測量原理,截取一定尺寸的圖案;通過(guò)控制面板上的按鈕調整測頭落在圖案上;材料的厚度是通過(guò)兩個(gè)接觸面產(chǎn)生的壓力和傳感器測量的兩個(gè)接觸面積來(lái)測量的。
1、接觸面積和測量壓力嚴格按照標準設計,同時(shí)支持各種非標定制。
2、薄膜測厚儀測試時(shí)測頭自動(dòng)升降,有效避免人為因素造成的系統誤差。
3、支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測量模式,方便用戶(hù)自由選擇。
4、系統可自動(dòng)進(jìn)樣,進(jìn)樣步驟、測點(diǎn)、進(jìn)樣速度等相關(guān)參數可由用戶(hù)自行設置。
5、測量結果的平均值、標準偏差等分析數據實(shí)時(shí)顯示,方便用戶(hù)判斷。
6、配置標準量塊進(jìn)行系統校準,確保測試的準確性和數據一致性。
7、系統支持實(shí)時(shí)數據顯示、自動(dòng)統計、打印等多項實(shí)用功能。
8、5寸觸摸屏控制,方便用戶(hù)進(jìn)行測試操作和數據查看。
9、薄膜測厚儀標準USB接口,方便系統與電腦的外部連接和數據交換。